জিস জেমিনিসেম 300 0.7nm অবধি রেজোলিউশন সহ একই সাথে ইনলেন্স মাধ্যমিক ইলেক্ট্রন ইমেজিং এবং ব্যাকস্ক্যাটারড ইলেক্ট্রন ইমেজিং সম্পাদন করতে পারে। এটি দ্রুত, উচ্চ-মানের, বিকৃতি-মুক্ত বৃহত আকারের এবং সাব-ন্যানো রেজোলিউশন ইমেজিং উপলব্ধি করতে পারে। 100 মিমি 2 উইন্ডো সহ ইডিএস ডিটেক্টর পয়েন্ট, লাইন এবং অঞ্চল উপাদানগুলির রিয়েল-টাইম পরিমাণগত নির্ধারণ করতে পারে। ইবিএসডি ডিটেক্টর বিশদ স্ট্রেন এবং ফেজ বিশ্লেষণের জন্য বিকৃতি-মুক্ত এবং মেগাপিক্সেল-রেজোলিউশন ইবিএসপি সংগ্রহ করতে পারে

স্পেকট্রো আর্কোস আইসিপি-ওএসের একটি উল্লম্ব ডাবল পর্যবেক্ষণ কাঠামো (ডিএসওআই) রয়েছে যা সংবেদনশীলতা বৃদ্ধি করে এবং দূষণ/ম্যাট্রিক্স সামঞ্জস্যতার সমস্যাগুলি দূর করে। এর ওআরসিএ অপটিকাল সিস্টেমটি 130-770 এনএম পরিসরে বর্ণালী ক্যাপচার করতে পারে। মাঝারি ধাপে গ্রেটিং এবং প্রিজম ব্যবহার করে ক্রস-ডিস্পারশন সহ ইচেল-ভিত্তিক সিস্টেমগুলির সাথে তুলনা করে, এটি ইউভি/ভিইউভি রেঞ্জের মধ্যে পারফরম্যান্স সরবরাহ করে যাতে আরও 5x পর্যন্ত ফটোোকাস্টিক সিগন্যালের তীব্রতা থাকে

স্পেকট্রোল্যাব এর বিশ্বের সিএমওএস-ভিত্তিক ডিটেক্টর রেকর্ডিং সিস্টেম বৈশিষ্ট্যযুক্ত, এটি উচ্চ-শেষ ধাতব বিশ্লেষণের জন্য আদর্শ করে তোলে। এটি ট্রেস উপাদান থেকে শুরু করে মাল্টি-ম্যাট্রিক্স পর্যন্ত অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য অত্যন্ত দ্রুত, অত্যন্ত নির্ভুল এবং ব্যতিক্রমী নমনীয় বিশ্লেষণ সরবরাহ করে $

জেনা নোভা 800F এ 8 টি কোডেড ফাঁকা ক্যাথোড ল্যাম্প, ডিউটিরিয়াম ব্যাকগ্রাউন্ড সংশোধন, একক এবং ডাবল বিম মোডে একটি প্রমাণিত অপটিক্যাল বেঞ্চ পাশাপাশি নির্গমন মোডে এবং সর্বশেষতম সিওসেন্স সলিড-স্টেট ডিটেক্টর সহ একটি আরএফআইডি রিডার সহ একটি সংহত ক্যারোসেল বৈশিষ্ট্যযুক্ত। এর একাধিক বুদ্ধিমান আনুষাঙ্গিকগুলি উত্পাদনশীলতা, সুরক্ষা এবং বিশ্লেষণাত্মক রুটিনগুলির জন্য ব্যবহারের সহজতা সর্বাধিক করে তোলে

68TM-30 ইউনিভার্সাল ম্যাটেরিয়াল টেস্টিং সিস্টেমে 0.1 ~ 100%এর পরিসরে 0.5 গ্রেডের যথার্থতা সহ 30KN এবং 1KN লোড সেন্সর রয়েছে। পরীক্ষা সিস্টেমটি ইন্টিগ্রেটেড ডেটা ক্লোজড-লুপ নিয়ন্ত্রণ এবং অধিগ্রহণের পাশাপাশি সেন্সরগুলির স্বয়ংক্রিয় সনাক্তকরণ এবং ক্রমাঙ্কন সম্পাদন করতে পারে। এর উচ্চ-নির্ভুলতা অ-সংযোগকারী ভিডিও এক্সটেনসোমিটার এভিই 2 এর 0.5μm এর রেজোলিউশন রয়েছে এবং এটি একটি পেটেন্ট ক্রস-পোলারাইজড লাইটিং সিস্টেম এবং সিডিএটি অনুরাগীদের ব্যবহার করে কর্মী, আলো এবং বায়ু প্রবাহের প্রভাবকে অত্যন্ত পুনরাবৃত্তিযোগ্য এবং সঠিক স্ট্রেন পরিমাপের জন্য।

ভিআর -5200 প্রকল্পটি চিত্রগুলি ক্যাপচার করতে এবং প্রতিটি পয়েন্টের উচ্চতা এবং অবস্থান পরিমাপ করতে স্ট্রাইপযুক্ত কাঠামোগত আলো এবং একটি উচ্চ-নির্ভুলতা সিএমওএস সেন্সর ব্যবহার করে। নিম্ন-শক্তি লেন্স দিয়ে সজ্জিত, এটি 200 × 100 × 50 মিমি পর্যন্ত রেঞ্জগুলি পরিমাপ করতে পারে। হাই-ম্যাগনিফিকেশন লেন্সগুলি প্রদর্শন রেজোলিউশনটিকে 0.1μm এ হ্রাস করে, আকার, ওঠানামা এবং রুক্ষতার সাথে যোগাযোগ না করা ব্যাচ পরিমাপের অনুমতি দেয়

আইএম -8020 কেবলমাত্র একটি ক্লিকের সাথে বিভিন্ন উচ্চতার নমুনাগুলি পরিমাপ করতে ব্যতিক্রমী প্রান্ত সনাক্তকরণ ক্ষমতা সহ একটি দ্বৈত টেলিসেন্ট্রিক লেন্স ব্যবহার করে। এর সনাক্তকরণের পারফরম্যান্সটি তার 20-মেগাপিক্সেল সিএমও এবং নতুন এজ সনাক্তকরণ অ্যালগরিদমের জন্য প্রচলিত মডেলগুলির চেয়ে 3 গুণ বেশি। 300 মিমি × 200 মিমি এবং traditional তিহ্যবাহী মডেলগুলির দ্বিগুণ গতির পরিমাপের ক্ষেত্রের সাথে এটি মাত্র কয়েক সেকেন্ডের মধ্যে 300 টি অংশ পর্যন্ত পরিমাপ করতে পারে। এটি পরিমাপের সময় এবং মানবিক ত্রুটি হ্রাস করার সময় দ্রুত, নির্ভুল এবং সহজ পরিমাপের অনুমতি দেয়।

হেলোস/বিআর লেজার কণা বিশ্লেষক শুকনো নমুনাগুলির দ্রুত এবং পুনরাবৃত্তিযোগ্য কণা আকারের বিশ্লেষণের জন্য একটি শক্তিশালী এবং শক্তিশালী রডোস শুকনো বিচ্ছুরণ ইউনিট দিয়ে সজ্জিত। এটির একটি পরিমাপের পরিসীমা 0.3 থেকে 175μm এবং 0.3%এরও কমের নির্ভুলতা

এসটিএ 449F3 বৃহস্পতি হ'ল একটি শক্তিশালী, নমনীয় এবং সহজেই ব্যবহারযোগ্য উপকরণ যা একই সাথে ক্যালোরির প্রভাব এবং ভর প্রকরণ নির্ধারণ করে। এটি একটি উচ্চ-পারফরম্যান্স হিট-ফ্লাক্স ডিএসসিকে একটি থার্মোবালেন্সের সাথে একত্রিত করে যার মাইক্রোগ্রাম-রেজোলিউশন রয়েছে, এটি একটি তুলনামূলক নমুনা লোড এবং পরিমাপের পরিসীমা সরবরাহ করে